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高周波ワイピングコンタクトソケット(Zシリーズ)

高周波ワイピングコンタクトソケット(Zシリーズ)

リードレスデバイスの高周波及び高電流テスト向けに開発されたワイピングコンタクトを用いたテストソケットです。

仕様

ワイピングアクションにより半田付着などを防止し、高周波、高電流テストで低く安定した接触抵抗と高い耐久性を実現する、ワイピンコンタクトを使用したリードレスデバイス向けテストソケットです。
  • ・高い信頼性のRFシグナルインテグリティ、周波数 >20 GHz@-1dB
  • ・優れた放熱性の銅材GNDブロック/導電性ゴム材GNDのオプション
  • ・>3.0 Aの大電流に対応
  • ・PCB基板の反りが最小限になるように最適化
  • ・低く安定した接触抵抗、高い耐久性とセルフクリーニングを実現
  • ・容易なメンテナンス
  • ・QFN, SON, LGAパッケージ対応

機械特性

ピッチ ≧ 0.3 mm
コンタクト材質 ベリリウム銅/金メッキ
テスト時長さ 0.8 ~ 1.0 mm
コンタクトライフ 500 Kサイクル
エラストマーライフ 300 Kサイクル
コンタクト荷重 20 gf @0.20 mm
温度範囲 -40 ~ +155 ℃

電気特性

電流 3.0 A連続
周波数 24.0 GHz@-1dB
接触抵抗 ≦ 30 mΩ
キャパシタンス(相互) 0.04 pF
インダクタンス(相互) 0.16 nH
電気長 1.10 mm
リーク電流 < 1 pA@10V

0.4mmピッチ Zシリーズソケット 高周波特性

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