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ウエハレベルテストソケット
(Wシリーズ)

ウエハレベルテストソケット(Wシリーズ)

スプリングプローブを用いることによるメンテナンス性、堅牢性、伸縮性を実現し、ウエハレベルテストに求められる狭ピッチと平坦性に対応します。

仕様

  • ・ピッチ: 150 ~500 μm
  • ・ピン長さ: 2.4 ~ 8.8 mm
  • ・デバイス周波数 >5GHzで信頼性のあるRFシグナルインテグリティ
  • ・マルチサイト及び多ピンのオプション
  • ・交換可能なカートリッジのオプション
  • ・PCBの反りが最小限になるように最適化
  • ・超耐久性&頻繁な清掃が要求される用途向けに最適な合金スプリングプローブ
  • ・ハイパワー用途向けケルビンアプリケーションのオプション
  • ・優れたコンタクト荷重制御及び容易なメンテナンス

ウエハレベルテストソケット構造

上面
下面

WLCSP Kelvin テストソケット

機械特性

ピッチ ≧0.35 mmChip(BumporPad)
コンタクト材質ベリリウム銅/金メッキ
硬質カーボンスチール/金メッキ
テスト時長さ3.5~5.42mm
コンタクトライフ300Kサイクル
コンタクト荷重6~15gf@テスト時長さ(Overdrive80~200um)
温度範囲-45~+125℃(SWPスプリング)
-55~+150℃ (SUSスプリング)
マニュアルテスト(蓋つき)

電気特性

電流 1.0A連続
接触抵抗 ≦180 mΩ

積層構造

積層構造により、短いプローブが使用可能で、スタックプランジャーの変更により先端位置を調整可能。

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