C200 Silmatコンタクトシステム
優れた堅牢性があり、ロングライフ、生産向けでATEに最適です。
ターゲットアプリケーションは、多ピン/RF/ハイパワー/
特性/SLT/ATE HVM。
電気特性
インサーションロス/周波数(corner) |
40 GHz @ -1.0 db, > 90 GHz@ -1.5 db |
自己インダクタンス(field) |
0.22 nH |
相互インダクタンス(field) |
0.05 nH |
自己キャパシタンス(field) |
0.25 pF |
相互キャパシタンス(field) |
0.04 pF |
接触抵抗(初期) |
< 25 mΩ |
熱抵抗(@1ピン) |
130.5 K/W |
許容電流(連続@1ピン) |
3.4 amps @ 20°C上昇 |
許容電流(パルス@1%DutyCycle, @1ピン) |
5.8 amps @ 20°C上昇 |
- (@0.5mmピッチ, 実測データ, SPICEモデル, Sパラメータ等各種資料に基づきます。)
機械特性
コンタクト長さ(テスト時) |
1.0 mm |
最小ピッチ |
0.5 mm – 複合ピッチ可能 |
対応パッケージ |
BGA, LGA, QFN, DFN, CSP, POP – 全てのピン配列に対応 |
コンタクト構造 |
ゴールドコンタクトセット& Silmat® インターポーザー(特許技術) |
ゴールドコンタクトセット材質 |
銅、下地ニッケル金メッキ(バイアス無し) |
Silmat® インターポーザー材質 |
ボリイミド・コアのシリコンエラストマー、シルバーパーティクル(特許技術) |
ストローク |
0.23mm(@テスト時)、0.38 mm(最大ストローク) |
コンタクト荷重(@1ピン) |
25~45グラム – ストローク量によって変わります。 |
操作温度 |
-55°C ~ +155°C |
コンタクトライフ* |
ゴールドコンタクトセット:> 2,000,000サイクル, Silmat® :>500,000サイクル |
- 仕様、検証データ、実測データ等各種資料に基づきます。
- *コンタクトライフは、パッケージ、基板、ストローク量、異物、テスト内容、テスト環境、取扱い、保守レベルなどを含む多くの要因に影響を受けるので、この値は変わり場合があります。