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C400 Silmatソケット
[PHOENIX TEST ARRAYS]
優れた電気特性の低コストカスタム製品なので、ハンドテスト/B2Bに向いており、その電気特性により大電流ソケットや高速ソケットとしても利用可能です。
ターゲットアプリケーションは、RF/高速/ハイパワー/特性/SLT/Rel-BI/B2B。
電気特性
インサーションロス/ 周波数(corner) | > 40 GHz @ - 1.0 db, > 90 GHz @ - 1.2 db |
---|---|
自己インダクタンス(field) | 0.10 nH |
相互インダクタンス(field) | 0.03 nH |
自己キャパシタンス(field) | 0.14 pF |
相互キャパシタンス(field) | 0.02 pF |
接触抵抗(初期) | < 25 mΩ |
熱抵抗(@1ピン) | 59.8 K/W |
許容電流(連続@1ピン) | 8.5 amps @ 20°C上昇 |
許容電流(パルス@1%DutyCycle, @1ピン) | 8.7 amps @ 20°C上昇 |
- (@0.5mmピッチ, 実測データ, SPICEモデル, Sパラメータ等各種資料に基づきます。)
機械特性
コンタクト長さ(テスト時) | 0.4-0.6 mm – パッケージによって変わります。 |
---|---|
最小ピッチ | 0.3 mm – 複合ピッチ可能 |
対応パッケージ | BGA, LGA, QFN, DFN, CSP, POP – 全てのピン配列に対応 |
コンタクト構造 | Silmat® インターポーザー(特許技術) |
Silmat® インターポーザー材質 | ボリイミド・コアのシリコンエラストマー、シルバーパーティクル(特許技術) |
ストローク | 0.13mm(@テスト時)、0.23mm(最大ストローク) |
コンタクト荷重(@1ピン) | 20~40グラム – ストローク量によって変わります。 |
操作温度 | -60°C ~ +200°C |
コンタクトライフ* | > 1,000 ~ 100,000サイクル |
- 仕様、検証データ、実測データ等各種資料に基づきます。
- *コンタクトライフは、パッケージ、基板、ストローク量、異物、テスト内容、テスト環境、取扱い、保守レベルなどを含む多くの要因に影響を受けるので、この値は変わり場合があります。
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